Продолжение предыдущего поста 👆
Опытные пользователи систем периферийного сканирования знают, что за счет автоматического теста микросхем ОЗУ порой иногда обеспечивается чуть ли не половина тестового покрытия плат. Если бы память не напаивалась, была бы в планках, то проблем бы (почти) не возникло бы. А с таким раскладом, чтобы протестировать, скажем, пайку процессора, нужно размещать контактные площадки и использовать ICT-адаптер. А пайку микросхем памяти – ну если мы, например, используем адаптер ICT на этих линиях, то там где-то в недрах, значит, подключен DIOS, его можно и использовать для генерации и запуска тестов ОЗУ. Но для этого-то тест ОЗУ с помощью периферийного сканирования и нужен, чтобы не ставить контактных площадок: на чувствительных линиях памяти им совсем не место!
Что ж, будем смотреть дальше!
Опытные пользователи систем периферийного сканирования знают, что за счет автоматического теста микросхем ОЗУ порой иногда обеспечивается чуть ли не половина тестового покрытия плат. Если бы память не напаивалась, была бы в планках, то проблем бы (почти) не возникло бы. А с таким раскладом, чтобы протестировать, скажем, пайку процессора, нужно размещать контактные площадки и использовать ICT-адаптер. А пайку микросхем памяти – ну если мы, например, используем адаптер ICT на этих линиях, то там где-то в недрах, значит, подключен DIOS, его можно и использовать для генерации и запуска тестов ОЗУ. Но для этого-то тест ОЗУ с помощью периферийного сканирования и нужен, чтобы не ставить контактных площадок: на чувствительных линиях памяти им совсем не место!
Что ж, будем смотреть дальше!